更新時間:2024-03-17
產(chǎn)品詳情 TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移粒徑譜儀被廣泛用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量 標準。選配3777型納米增強儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀(1nm-DMA)組件后,SMPS粒徑譜 儀能夠測量納米的粒徑范圍擴展至1nm。。以下特性和優(yōu)勢是基于由 3082 型靜電分級器 、 1nm-DMA差分遷移分析儀 、 3777型納米增 強儀 、3772型凝聚粒子計數(shù)器 等組
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